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北京测维光电仪器厂
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企业档案
正置金相显微镜LW200-4JS
产品信息
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用途：
LW200-4JS适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体，芯片及新材料等方面的检验与分析。 |
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| 技术参数：
1、三目镜筒：瞳矩50-75mm 视度±5° 辅助倍数1.25X
2、平场目镜：高眼点10XΦ20mm
3、平场物镜：PL4X，PL10X，PL40X，PL100Xoil(可调换80X干镜)
4、转换器 ：四 孔（可选五孔转换器）
5、总放大倍数：50X-1250X 6、载物台：尺寸160mm*140mm 移动范围75mm*50mm 7、聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25 孔径光栏 滤色片座 8、调焦：粗微动同轴 升降范围20mm 微动格值:0.002mm 9、光源：柯勒照明确正交偏振装置 滤色片座 可调卤素灯12V50W 10、配CCD图像适配镜 选型提示： 1、LW200-4JS，图像适配镜，数码相机 2、LW200-4JS，图像适配镜，300万数码彩色摄像头 3、LW200-4JS，图像适配镜，彩色摄像头，图像采集卡 4、金相显微镜分析系统：显微镜主机，CCD适配镜，数码彩色摄像头300万像素，金相分析软件 （提示：在电脑显示器上很方便地观察金相图像，对金相图谱进行分分析，自动评级等对图片进行 输出、保存、打印等，也可对图像进行测量等） 选配件 : *金相分析软件；测量软件；数码相机；采集卡等 *目镜:16X/20X； *物镜:20X/25X/60X/100X干镜 |